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1.
서명
Passivation of Sodium Ions in Metal Oxide Semiconductor Structures by Annealing with Ultraviolet Light 미리보기
저자
Itsumi, M
발행처
Electrochemical Society
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
2.
서명
Copper Decoration Followed by TEM Observation Identifying Defects in theBuried Oxides of SOI Substrates 미리보기
저자
Itsumi, M
발행처
Electrochemical Society
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
3.
서명
Generation of Si-SiO~2 Interface States at Surface Potentials near 0.4 and 0.7 eV 미리보기
저자
Itsumi, M
발행처
Electrochemical Society
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
4.
서명
Observation of Defects in Thermal Oxides of Polysilicon by Transmission Electron Microscopy Using Copper Decoration 미리보기
저자
Itsumi, M
발행처
Electrochemical Society
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
5.
서명
On-Chip Decoupling Capacitance with High Dielectric Constant and Strength Using SrTiO~3 Thin Films Electron-Cyclotron-Resonance-Sputtered at 400� 미리보기
저자
Itsumi, M
발행처
Electrochemical Society
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
1 

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