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제한항목: Afanas'ev, V. V; 1980; Electrochemical Society

검색간략리스트

1.

서명: Conducting and Charge-Trapping Defects in Buried Oxide Layers of SIMOX Structures
저자: Afanas'ev, V. V
발행처: Electrochemical Society
원문제공시작년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

2.

서명: Trap Generation in Buried Oxides of Silicon-on-Insulator Structures by Vacuum Ultraviolet Radiation
저자: Afanas'ev, V. V
발행처: Electrochemical Society
원문제공시작년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

3.

서명: Confinement Phenomena in Buried Oxides of SIMOX Structures as Affected by Processing
저자: Afanas'ev, V. V
발행처: Electrochemical Society
원문제공시작년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

1

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