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[키워드 / 전체:Journal]
총
1,554
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500
건 출력
4/50
페이지
제한항목
1980
North-Holland
검색결과제한
자료유형
기사
(1554)
저자
Bogomolova, L. D
(5)
Inui, M
(4)
Kawaguchi, T
(4)
Qiu, J
(4)
Scherer, G. W
(4)
Arkhipov, V. I
(3)
Awazu, K
(3)
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출판사
North-Holland
(1554)
발행년도
1980
(1554)
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서명
저자
발행처
원문제공시작년
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15
20
30
50
100
31.
서명
Compositional and electrical properties of SiO~2/Si~3N~4/SiO~2 stacked films grown onto silicon substrates and annealed in hydrogen
저자
Santucci, S
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
32.
서명
Suboxides at the Si/SiO~2 interface: a Si2p core level study with synchrotron radiation
저자
Rochet, F
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
원문복사 신청
원문제공마감년
33.
서명
Oxynitride glasses in the system Mg-Ca-Al-Si-O-N prepared with the aid of a polymeric precursor: preparation and properties
저자
Deckwerth, M
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
34.
서명
Generation of hot holes in MOSFET
저자
Nebel, F
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
원문복사 신청
원문제공마감년
35.
서명
On spaces of estimating functions
저자
Lin, Y.-X
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
36.
서명
Effect of fictive temperature on medium range order in v-SiO~2
저자
Chemarin, C
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
37.
서명
Si~3N~4 thickness and its oxidation time influence on O/N/O DRAM cell performance
저자
Grifoni, L
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
38.
서명
Hole trapping in flash EEPROM gate oxide and damages induced by gate to source erasing
저자
Candelier, P
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
원문복사 신청
원문제공마감년
39.
서명
Crystallization property effects in Ge~3~0Se~6~0Te~1~0 glass
저자
Song, S.-M
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
원문복사 신청
원문제공마감년
40.
서명
Nitrided glass as a reaction medium: reduction of Ag and Cu within a phosphorus oxynitride glass matrix
저자
Le Sauze, A
발행처
North-Holland
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
원문복사 신청
원문제공마감년
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