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검색어[전방일치/ 기사제목:"Defect-induced Si(100) dimer buckling structures studied by scanning tunneling microscopy" [Surface Science 357/358 (1996) 468]]

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기사제목: "Defect-induced Si(100) dimer buckling structures studied by scanning tunneling microscopy" [Surface Science 357/358 (1996) 468]
기사저자명: Uchikawa, M
출판사: North-Holland Pub. Co
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

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