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검색어[전방일치/ 기사저자명:Cho B.-J.]

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1.

기사제목: Anomalous Field-Oxide-Ungrowth Phenomenon in Recessed Local Oxidation ofSilicon Isolation Structure
기사저자명: Cho, B.-J
출판사: Electrochemical Society
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

2.

기사제목: Nano-Trenched Local Oxidation of Silicon Isolation Using Island Polysilicon Grains
기사저자명: Kwon, S.-K
출판사: Electrochemical Society
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

3.

기사제목: A Mechanism of Field-Oxide-Ungrowth Phenomenon in Recessed Isolation Process and Practical Solution
기사저자명: Jang, S.-A
출판사: Electrochemical Society
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

4.

기사제목: COMMUNICATIONS - Reduction of stress-induced leakage currents in thin oxides by application of a low post-stress gate bias/
기사저자명: Ang, C H
출판사: American Institute of Physics
발행년: 2000
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

5.

기사제목: Mechanisms of photoluminescence from silicon nanocrystals formed by pulsed-laser deposition in argon and oxygen ambient/
기사저자명: Chen, X. Y
출판사: American Institute of Physics
발행년: 2003
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

6.

기사제목: Physical and electrical characterization of HfO~2 metal-insulator-metal capacitors for Si analog circuit applications/
기사저자명: Hu, H
출판사: American Institute of Physics
발행년: 2003
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

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