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검색어[전방일치/ 기사저자명:Collins R. W.]
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1.
기사제목
Low temperature plasma process based on CO-rich CO/H~2 mixtures for highrate diamond film deposition 미리보기
기사저자명
Lee, J
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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2.
기사제목
Application of real time spectroscopic ellipsometry for high resolution depth profiling of compositionally graded amorphous silicon alloy thin films 미리보기
기사저자명
Fujiwara, H
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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3.
기사제목
Real time spectroellipsometry for optimization of diamond film growth bymicrowave plasma-enhanced chemical vapor deposition from CO/H~2 mixtures 미리보기
기사저자명
Lee, J
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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4.
기사제목
Metabolism of Natural Volatile Compounds by Strawberry Fruit 미리보기
기사저자명
Hamilton-Kemp, T. R
출판사
American Chemical Society, Books and Journals Division]
발행년
1996
자료유형
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5.
기사제목
Insights into deposition processes for amorphous semiconductor materialsand devices from real time spectroscopic ellipsometry 미리보기
기사저자명
Collins, R. W
출판사
North-Holland
발행년
1980
자료유형
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6.
기사제목
A novel approach to the analysis of sub-bandgap absorption in a-Si:H based materials 미리보기
기사저자명
Chen, I.-S
출판사
North-Holland
발행년
1980
자료유형
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7.
기사제목
Transmission ellipsometry of a thin-film helicoidal bianisotropic medium 미리보기
기사저자명
Rovira, P. I
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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8.
기사제목
Multichannel Mueller Matrix Ellipsometry for Simultaneous Real-Time Measurement of Bulk Isotropic and Surface Anisotropic Complex Dielectric Functions of Semiconductors/ 미리보기
기사저자명
Chen, C
출판사
American Physical Society
발행년
2003
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9.
기사제목
Nucleation and bulk film growth kinetics of nanocrystalline diamond prepared by microwave plasma-enhanced chemical vapor deposition on silicon substrates 미리보기
기사저자명
Lee, J
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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10.
기사제목
Spectroellipsometry for characterization of Zn~1~-~xCd~xSe multilayered structures on GaAs 미리보기
기사저자명
Lee, J
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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