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1.
기사제목
Depth profiling of surface oxidized TiAlN film by synchrotron radiation excited X-ray photoelectron spectroscopy 미리보기
기사저자명
Esaka, F
출판사
North-Holland Pub. Co
발행년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
2.
기사제목
The use of Si carriers for aerosol particle collection and subsequent elemental analysis by total-reflection X-ray fluorescence spectrometry/ 미리보기
기사저자명
Esaka, F
출판사
Pergamon Press
발행년
2003
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
1 

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