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검색어[전방일치/ 기사저자명:Graef D.]

총 4건 중 4건 출력

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1.

기사제목: A Method for Studying the Grown-In Defect Density Spectra in CzochralskiSilicon Wafers
기사저자명: Kissinger, G
출판사: Electrochemical Society
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

2.

기사제목: Internal oxidation of vacancy agglomerates in Czochralski silicon wafersduring high-temperature anneals
기사저자명: Kissinger, G
출판사: American Institute of Physics
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

3.

기사제목: Characterization of Crystal Quality by Crystal Originated Particle Delineation and the Impact on the Silicon Wafer Surface
기사저자명: Graef, D
출판사: Electrochemical Society
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

4.

기사제목: Crystal Defects in Highly Boron Doped Silicon
기사저자명: Suhren, M
출판사: Electrochemical Society
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

1

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