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검색어[전방일치/ 기사저자명:Gusev E. P.]
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1.
기사제목
High resolution ion scattering study of silicon oxynitridation 미리보기
기사저자명
Lu, H. C
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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2.
기사제목
Effect of near-interfacial nitrogen on the oxidation behavior of ultrathin silicon oxynitrides 미리보기
기사저자명
Lu, H. C
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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3.
기사제목
Ultrathin (<4 nm) SiO2 and Si-O-N gate dielectric layers for silicon microelectronics: Understanding the processing, structure, and physical and electrical limits/ 미리보기
기사저자명
Green, M L
출판사
American Institute of Physics
발행년
2001
자료유형
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4.
기사제목
An ion scattering study of the interaction of oxygen with Si(111): surface roughening and oxide growth 미리보기
기사저자명
Lu, H. C
출판사
North-Holland Pub. Co
발행년
1980
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5.
기사제목
The composition of ultrathin silicon oxynitrides thermally grown in nitric oxide 미리보기
기사저자명
Gusev, E. P
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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6.
기사제목
Physical and electrical properties of reactive molecular-beam-deposited aluminum nitride in metal-oxide-silicon structures/ 미리보기
기사저자명
Ragnarsson, L.-A
출판사
American Institute of Physics
발행년
2003
자료유형
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