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검색어[전방일치/ 기사저자명:Hegde R. I.]
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1.
기사제목
Improved atomic force microscopy imaging using carbon-coated probe tips 미리보기
기사저자명
Doris, B. B
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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2.
기사제목
Surface and Interface Roughness of Ultrathin Nitric Oxide Oxynitride Gate Dielectric 미리보기
기사저자명
Hegde, R. I
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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3.
기사제목
Orientation Control of Chemical Vapor Deposition TiN Film for Barrier Applications 미리보기
기사저자명
Fiordalice, R. W
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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4.
기사제목
Growth and Film Characteristics of and NO Oxynitride Gate and Tunnel Dielectrics 미리보기
기사저자명
Hegde, R. I
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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5.
기사제목
Thin Film Properties of Tungsten Nucleation Layer in Blanket Tungsten Deposition 미리보기
기사저자명
Hegde, R. I
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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6.
기사제목
A Low Temperature Collimated Titanium Deposition Process 미리보기
기사저자명
Hegde, R. I
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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