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1.
기사제목
Barrier Height Lowering and Instability of Gate Oxides Due to Dilute Hydrofluoric Acid Pretreatment 미리보기
기사저자명
Akiya, H
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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2.
기사제목
Current increase in thin gate-oxide (3.5-7.0 nm) metal-oxide silicon structures with the boron-doped polycrystalline-silicon gates biased negatively 미리보기
기사저자명
Itsumi, M
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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3.
기사제목
Passivation of Sodium Ions in Metal Oxide Semiconductor Structures by Annealing with Ultraviolet Light 미리보기
기사저자명
Itsumi, M
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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4.
기사제목
Copper Decoration Followed by TEM Observation Identifying Defects in theBuried Oxides of SOI Substrates 미리보기
기사저자명
Itsumi, M
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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5.
기사제목
Characterization of metallic impurities in Si using a recombination-lifetime correlation method 미리보기
기사저자명
Itsumi, M
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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6.
기사제목
Impurity dependence of oxide defects in Czochralski silicon 미리보기
기사저자명
Itsumi, M
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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7.
기사제목
Generation of Si-SiO~2 Interface States at Surface Potentials near 0.4 and 0.7 eV 미리보기
기사저자명
Itsumi, M
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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8.
기사제목
Observation of Defects in Thermal Oxides of Polysilicon by Transmission Electron Microscopy Using Copper Decoration 미리보기
기사저자명
Itsumi, M
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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9.
기사제목
Octahedral void defects observed in the bulk of Czochralski silicon 미리보기
기사저자명
Ueki, T
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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10.
기사제목
On-Chip Decoupling Capacitance with High Dielectric Constant and Strength Using SrTiO~3 Thin Films Electron-Cyclotron-Resonance-Sputtered at 400� 미리보기
기사저자명
Itsumi, M
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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