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검색어[전방일치/ 기사저자명:Jang S-M]

총 7건 중 7건 출력

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1.

기사제목: Plasma Charging Damage and Water-Related Hot-Carrier Reliability in the Deposition of Plasma-Enhanced Tetraethylorthosilicate Oxide
기사저자명: Lin, Y. M
출판사: Electrochemical Society
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

2.

기사제목: Improvement of Water-Related Hot-Carrier Reliability by Optimizing the Plasma-Enhanced Tetra-ethoxysilane Deposition Process
기사저자명: Lin, Y. M
출판사: Electrochemical Society
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

3.

기사제목: Electrical properties of thin gate dielectric grown by rapid thermal oxidation/
기사저자명: Lee, J S
출판사: Published for the Society by the American Institute of Physics
발행년: 2000
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

4.

기사제목: Dielectric Science and Materials - Physical and Electrical Characteristics of Methylsilane- and Trimethylsilane-Doped Low Dielectric Constant Chemical Vapor Deposited Oxides/
기사저자명: Wu, Z-C
출판사: Electrochemical Society
발행년: 2001
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

5.

기사제목: Dielectric Science and Materials - Physical and Electrical Characteristics of F- and C-Doped Low Dielectric Constant Chemical Vapor Deposited Oxides/
기사저자명: Wu, Z-C
출판사: Electrochemical Society
발행년: 2001
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

6.

기사제목: Dielectric Science and Materials - Dielectric and Barrier Properties of Spin-On Organic Aromatic Low Dielectric Constant Polymers FLARE and SILK/
기사저자명: Wu, Z-C
출판사: Electrochemical Society
발행년: 2001
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

7.

기사제목: PAPERS - Silicon Devices - A Physical Model for Hole Direct Tunneling Current in P+ Poly-Gate PMOSFETs with Ultrathin Gate Oxides/
기사저자명: Yang, K-N
출판사: Institute of Electrical and Electronics Engineers
발행년: 2000
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

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