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검색어[전방일치/ 기사저자명:Jergel M.]
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1.
기사제목
Interface Evolution in a W/Si Multilayer after Rapid Thermal Annealing Studied by X-ray Reflectivity and Diffuse Scattering 미리보기
기사저자명
Jergel, M
출판사
Munksgaard International Booksellers and Publishers
발행년
1980
자료유형
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2.
기사제목
Interface roughness correlation in tungsten/silicon multilayers 미리보기
기사저자명
Jergel, M
출판사
North-Holland Pub. Co
발행년
1996
자료유형
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3.
기사제목
Thermal stability of W~1~-~xSi~x/Si multilayers under rapid thermal annealing 미리보기
기사저자명
Senderak, R
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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4.
기사제목
Influence of temperature time and depth profiles on the pulsed XeCl laser crystallization of evaporated silicon films 미리보기
기사저자명
D'Anna, E
출판사
North-Holland
발행년
1980
자료유형
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5.
기사제목
Thermally activated interface shift in the tungsten/silicon multilayers 미리보기
기사저자명
Jergel, M
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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6.
기사제목
Very thin insulating layer formed by low-energy Ar-beam bombardment in the surface region of undoped hydrogenated amorphous silicon/ 미리보기
기사저자명
Durny, R
출판사
American Institute of Physics
발행년
2000
자료유형
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7.
기사제목
Study of the fluorine content in precursor and Tl-based thin films by resonant nuclear reaction method/ 미리보기
기사저자명
Jergel, Mi
출판사
North-Holland
발행년
2001
자료유형
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8.
기사제목
Influence of substrate and precursor film composition on morphology and superconducting transition of Tl-2212 thin films characterized by microwaves/ 미리보기
기사저자명
Chromik, S
출판사
North-Holland
발행년
2001
자료유형
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9.
기사제목
Effect of substrate heating and ion beam polishing on the interface quality in Mo/Si multilayers-X-ray comparative study/ 미리보기
기사저자명
Anopchenko, A
출판사
North-Holland
발행년
2001
자료유형
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