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검색어[전방일치/ 기사저자명:Noyan I. C.]
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1.
기사제목
Inhomogeneous strain states in sputter deposited tungsten thin films 미리보기
기사저자명
Noyan, I. C
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
2.
기사제목
Quantitative nanoscale metrology study of Cu/SiO2 interconnect technology using transmission x-ray microscopy/ 미리보기
기사저자명
Su, X
출판사
American Institute of Physics
발행년
2000
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
3.
기사제목
Nanometer precision metrology of submicron Cu/SiO~2 interconnects using fluorescence and transmission x-ray microscopy/ 미리보기
기사저자명
Xu, G
출판사
American Institute of Physics
발행년
2003
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
1 

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