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검색어[전방일치/ 기사저자명:Pahlke S.]

총 7건 중 7건 출력

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검색간략리스트

1.

기사제목: Quo Vadis total reflection X-ray fluorescence?/
기사저자명: Pahlke, S
출판사: Pergamon Press
발행년: 2003
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

2.

기사제목: Measurement of Shallow Arsenic Impurity Profiles in Semiconductor Silicon Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry and Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry
기사저자명: Schwenke, H
출판사: Electrochemical Society
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

3.

기사제목: Si drift detector in comparison to Si(Li) detector for total reflection X-ray fluorescence analysis applications/
기사저자명: Osmic, F
출판사: Pergamon Press
발행년: 2003
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

4.

기사제목: Synchrotron radiation induced total reflection X-ray fluorescence of low Z elements on Si wafer surfaces at SSRL - comparison of excitation geometries and conditions/
기사저자명: Streli, C
출판사: Pergamon Press
발행년: 2001
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

5.

기사제목: Analysis of low Z elements on Si wafer surfaces with undulator radiation induced total reflection X-ray fluorescence at the PTB beamline at BESSY II/
기사저자명: Streli, C
출판사: Pergamon Press
발행년: 2003
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

6.

기사제목: Analysis of organic contaminants on Si wafers with TXRF-NEXAFS/
기사저자명: Pepponi, G
출판사: Pergamon Press
발행년: 2003
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

7.

기사제목: Analysis of low Z elements on Si wafer surfaces with synchrotron radiation induced total reflection X-ray fluorescence at SSRL, Beamline 3-3: comparison of droplets with spin coated wafers/
기사저자명: Streli, C
출판사: Pergamon Press
발행년: 2003
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

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