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검색어[전방일치/ 기사제목:Radiation damage of N-MOSFETS fabricated in a BiCMOS process/]
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기사제목
Radiation damage of N-MOSFETS fabricated in a BiCMOS process/ 미리보기
기사저자명
Nakabayashi, M; Yoneoka, M; Simoen, E; Claeys, C; Ohyama, H; Takizawa, H; Kobayashi, K Hayama, K; Takami, Y; Kohiki, S
출판사
Chapman and Hall
발행년
2001
자료유형
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