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검색어[전방일치/ 기사제목:Radiation damage of N-MOSFETS fabricated in a BiCMOS process/]

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기사제목: Radiation damage of N-MOSFETS fabricated in a BiCMOS process/
기사저자명: Nakabayashi, M; Yoneoka, M; Simoen, E; Claeys, C; Ohyama, H; Takizawa, H; Kobayashi, K Hayama, K; Takami, Y; Kohiki, S
출판사: Chapman and Hall
발행년: 2001
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

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