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기사제목: SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Impact of CMOS Technology Scaling on the Atmospheric Neutron Soft Error Rate/
기사저자명: Hazucha, P
출판사: Professional Technical Group on Nuclear Science
발행년: 2000
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

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