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검색어[전방일치/ 기사저자명:Schwank J R]
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1.
기사제목
Mechanism for anneal-induced interfacial charging in SiO~2 thin films onSi 미리보기
기사저자명
Warren, W. L
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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2.
기사제목
Nonuniform oxide charge and paramagnetic interface traps in high-temperature annealed Si/SiO~2/Si structures 미리보기
기사저자명
Vanheusden, K
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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3.
기사제목
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session D: BASIC MECHANISMS - Implications of Radiation-Induced Dopant Deactivation for npn Bipolar Junction Transistors/ 미리보기
기사저자명
Witczak, S C
출판사
Professional Technical Group on Nuclear Science
발행년
2000
자료유형
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4.
기사제목
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session I: DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - Thermal-Stress Effects on Enhanced Low Dose Rate Sensitivity in Linear Bipolar ICs/ 미리보기
기사저자명
Shaneyfelt, M R
출판사
Professional Technical Group on Nuclear Science
발행년
2000
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
5.
기사제목
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session A: ISOLATION TECHNOLOGIES - Single-Event Upset and Snapback in Silicon-on-Insulator Devices and Integrated Circuits/ 미리보기
기사저자명
Dodd, P E
출판사
Professional Technical Group on Nuclear Science
발행년
2000
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
6.
기사제목
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session A: ISOLATION TECHNOLOGIES - Worst-Case Bias During Total Dose Irradiation of SOI Transisitors/ 미리보기
기사저자명
Ferlet-Cavrois, V
출판사
Professional Technical Group on Nuclear Science
발행년
2000
자료유형
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