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검색어[전방일치/ 기사저자명:Schwenke H.]

총 5건 중 5건 출력

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1.

기사제목: Measurement of Shallow Arsenic Impurity Profiles in Semiconductor Silicon Using Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry and Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry
기사저자명: Schwenke, H
출판사: Electrochemical Society
발행년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

2.

기사제목: A wavelength-dispersive arrangement for wafer analysis with total reflection X-ray fluorescence spectrometry using synchrotron radiation/
기사저자명: Schwenke, H
출판사: Pergamon Press
발행년: 2003
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

3.

기사제목: Simultaneous acquisition of X-ray spectra using a multi-wire, position-sensitive gas flow detector/
기사저자명: Beaven, P. A
출판사: Pergamon Press
발행년: 2003
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

4.

기사제목: Calibration of straight total reflection X-ray fluorescence spectrometry - results of a European Round Robin test/
기사저자명: Rink, I
출판사: Pergamon Press
발행년: 2001
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

5.

기사제목: Calibration of total-reflection X-ray fluorescence using a nickel bulk sample/
기사저자명: Knoth, Joachim
출판사: Pergamon Press
발행년: 2001
자료유형: 저널기사 원문복사 신청

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