충남대학교외국학술지지원센터

글로벌메뉴

  • HOME
  • sitemap

주메뉴

검색

검색 타입
상세검색
검색어[전방일치/ 기사저자명:Simoen E]
총 14건 중 14건 출력
1/2 페이지 엑셀파일 출력

검색간략리스트

열거형 테이블형
1.
기사제목
Effective generation-recombination parameters in high-energy proton irradiated silicon diodes 미리보기
기사저자명
Simoen, E
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
2.
기사제목
High energy particle irradiation effects on the low-frequency noise of Czochralski silicon junction diodes 미리보기
기사저자명
Simoen, E
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
3.
기사제목
Peripheral current analysis of silicon p-n junction and gated diodes/ 미리보기
기사저자명
Czerwinski, A
출판사
American Institute of Physics
발행년
2000
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
4.
기사제목
Activation energy analysis as a tool for extraction and investigation of p-n junction leakage current components/ 미리보기
기사저자명
Czerwinski, A
출판사
American Institute of Physics
발행년
2003
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
5.
기사제목
Identification of isolation-edge related random telegraph signals in submicron silicon metal-oxide-semiconductor field-effect transistors 미리보기
기사저자명
Lukyanchikova, N
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
6.
기사제목
Semiconductor Devices, Materials, and Processing - Diode Analysis of High-Energy Boron Implantation-Induced P-Well Defects/ 미리보기
기사저자명
Poyai, A
출판사
Electrochemical Society
발행년
2001
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
7.
기사제목
Processing factors influencing the leakage current in shallow junction diodes for deep submicro-meter CMOS/ 미리보기
기사저자명
Augendre, E; Badenes, G; Grau, L Simoen, E; Claeys, C; Romano-Rodriguez, A Rooyackers, R;
출판사
Chapman and Hall
발행년
2001
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
8.
기사제목
Electron valence-band tunneling-induced Lorentzian noise in deep submicron silicon-on-insulator metal-oxide-semiconductor field-effect transistors/ 미리보기
기사저자명
Lukyanchikova, N. B
출판사
American Institute of Physics
발행년
2003
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
9.
기사제목
Radiation damage of N-MOSFETS fabricated in a BiCMOS process/ 미리보기
기사저자명
Nakabayashi, M; Yoneoka, M; Simoen, E; Claeys, C; Ohyama, H; Takizawa, H; Kobayashi, K Hayama, K; Takami, Y; Kohiki, S
출판사
Chapman and Hall
발행년
2001
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
10.
기사제목
Deep Levels in Oxygenated n-Type High-Resistivity FZ Silicon before and after a Low-Temperature Hydrogenation Step/ 미리보기
기사저자명
Simoen, E
출판사
Electrochemical Society
발행년
2003
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
1 2 
임시보관함보기

하단메뉴