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검색어
[전방일치/ 기사저자명:Vanhellemont J.]
총
9
건 중
9
건 출력
1/1
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검색결과제한
자료유형
기사
(9)
저자
Simoen, E
(2)
Vanhellemont, J
(2)
Gaubas, E
(1)
Kaniava, A
(1)
Kissinger, G
(1)
Ohyama, H
(1)
Rotondaro, A. L. P
(1)
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출판사
American Institute of Physics
(8)
Electrochemical Society
(1)
발행년도
1980
(9)
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기사제목
기사저자명
출판사
발행년
정렬
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내림차순
5
10
15
20
30
50
100
1.
기사제목
Giant grown-in octahedral inclusions in as-grown silicon: voids versus silicon oxide precipitates
기사저자명
Vanhellemont, J
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사
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2.
기사제목
On the impact of interface energy and vacancy concentration on morphology changes and nucleation of silicon oxide precipitates in silicon
기사저자명
Vanhellemont, J
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사
원문복사 신청
3.
기사제목
A simple technique for the separation of bulk and surface recombination parameters in silicon
기사저자명
Gaubas, E
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사
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4.
기사제목
Recombination activity of iron-related complexes in silicon studied by temperature dependent carrier lifetime measurements
기사저자명
Kaniava, A
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사
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5.
기사제목
Effective generation-recombination parameters in high-energy proton irradiated silicon diodes
기사저자명
Simoen, E
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사
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6.
기사제목
Impact of Fe and Cu Contamination on the Minority Carrier Lifetime of Silicon Substrates
기사저자명
Rotondaro, A. L. P
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
저널기사
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7.
기사제목
High energy particle irradiation effects on the low-frequency noise of Czochralski silicon junction diodes
기사저자명
Simoen, E
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사
원문복사 신청
8.
기사제목
Internal oxidation of vacancy agglomerates in Czochralski silicon wafersduring high-temperature anneals
기사저자명
Kissinger, G
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사
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9.
기사제목
Degradation of Si~1~-~xGe~x epitaxial devices by proton irradiation
기사저자명
Ohyama, H
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
저널기사
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1
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