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검색어[전방일치/ 기사저자명:Vanhellemont J.]
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1.
기사제목
Giant grown-in octahedral inclusions in as-grown silicon: voids versus silicon oxide precipitates 미리보기
기사저자명
Vanhellemont, J
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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2.
기사제목
On the impact of interface energy and vacancy concentration on morphology changes and nucleation of silicon oxide precipitates in silicon 미리보기
기사저자명
Vanhellemont, J
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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3.
기사제목
A simple technique for the separation of bulk and surface recombination parameters in silicon 미리보기
기사저자명
Gaubas, E
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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4.
기사제목
Recombination activity of iron-related complexes in silicon studied by temperature dependent carrier lifetime measurements 미리보기
기사저자명
Kaniava, A
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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5.
기사제목
Effective generation-recombination parameters in high-energy proton irradiated silicon diodes 미리보기
기사저자명
Simoen, E
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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6.
기사제목
Impact of Fe and Cu Contamination on the Minority Carrier Lifetime of Silicon Substrates 미리보기
기사저자명
Rotondaro, A. L. P
출판사
Electrochemical Society
발행년
1980
자료유형
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7.
기사제목
High energy particle irradiation effects on the low-frequency noise of Czochralski silicon junction diodes 미리보기
기사저자명
Simoen, E
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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8.
기사제목
Internal oxidation of vacancy agglomerates in Czochralski silicon wafersduring high-temperature anneals 미리보기
기사저자명
Kissinger, G
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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9.
기사제목
Degradation of Si~1~-~xGe~x epitaxial devices by proton irradiation 미리보기
기사저자명
Ohyama, H
출판사
American Institute of Physics
발행년
1980
자료유형
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