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임시보관함
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1.
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session E: HARDNESS ASSURANCE - Origins of Total-Dose Response Variability in Linear Bipolar Microcircuits/
/ Barnaby, H J / Professional Technical Group on Nuclear Science / IEEE transactions on nuclear science / 2342-2349p. / 2000
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