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1.

Cleaning of Si and properties of the HfO~2-Si interface/ / Choi, K / Published for the Society by the American Institute of Physics / Journal of vacuum science & technology. / 718-722p. / 2003

2.

Direct Phase Determination of Triple Products from Bijvoet Inequalities. Ⅱ. A Probabilistic Approach/ / HEINERMAN, J.J.L / Published for the International Union of Crystallography by Munksgaard / Acta crystallographica . Section A Cryst / pp. 447-449 / 1978

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