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NETWORK/SYSTEM COMPUTATION AND ANALYSIS - Lifetime-Characteristics and Inspection-Schemes for L�vy Degradation Processes/

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자료유형학술지논문
논문명NETWORK/SYSTEM COMPUTATION AND ANALYSIS - Lifetime-Characteristics and Inspection-Schemes for L�vy Degradation Processes/
저자명Yang, Y
학술지명IEEE transactions on reliability
발행년도2000
권호사항Vol.49 No.4
발행처Institute of Electrical and Electronics Engineers
페이지377-382p.
언어eng

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No. 권호·제본정보 보기 소장처 소장사항 청구기호 구독 최근입수호
1 중앙도서관/3층 연속간행물(보존)/ 620.004505 I22
2 중앙도서관/3층 연속간행물실/ 620.004505 I22 구독중단 Vol.49 No.4

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