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Structural characterization of ordered SiGe films grown on Ge(100) and Si(100) substrates

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자료유형학술지논문
논문명Structural characterization of ordered SiGe films grown on Ge(100) and Si(100) substrates
저자명Araki, T.
학술지명JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
발행년도1980
권호사항vol: 80 no: 7 ( 1997
발행처American Institute of Physics
페이지3804
언어eng

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No. 권호·제본정보 보기 소장처 소장사항 청구기호 구독 최근입수호
1 중앙도서관/3층 연속간행물(보존)/ 530.5 J86a
2 중앙도서관/3층 연속간행물실/ 530.5 J86a 구독중단 v.112 no.12

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