상세정보
- |Home >
- 상세정보
부가기능
Structural characterization of ordered SiGe films grown on Ge(100) and Si(100) substrates
기사 상세정보
소장정보
- 소장정보
| No. | 권호·제본정보 보기 | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 중앙도서관/3층 연속간행물(보존)/ | 530.5 J86a | ||||
| 2 | 중앙도서관/3층 연속간행물실/ | 530.5 J86a | 구독중단 | v.112 no.12 |
하단메뉴
