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Evaluation of paracrystalline lattice distortion by profile analysis using a single X-ray diffraction peak

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자료유형학술지논문
논문명Evaluation of paracrystalline lattice distortion by profile analysis using a single X-ray diffraction peak
저자명Yamamura, S.
학술지명INTERNATIONAL JOURNAL OF PHARMACEUTICS
발행년도1980
권호사항vol: 133 no: 1 ( 199
발행처Elsevier/North Holland
페이지117
언어eng

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No. 권호·제본정보 보기 소장처 소장사항 청구기호 구독 최근입수호
1 중앙도서관/3층 연속간행물(보존)/ 615.05 I61
2 중앙도서관/3층 연속간행물실/ 615.05 I61 구독중단 vol.132 no.1/2

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