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Semiconductors II: Surfaces, interfaces, microstructures, and related topics - Crystallography of the (3 x 3) surface reconstruction of 3C-SiC(111), 4H-SiC(0001), and 6H-SiC(0001) surfaces retrieved by low-energy electron diffraction/
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| No. | 권호·제본정보 보기 | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 중앙도서관/3층 연속간행물(보존)/ | 530.5 P578B | ||||
| 2 | 중앙도서관/3층 연속간행물실/ | 530.5 P578B | 서명변경 | Vol.80 No.20 |
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