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SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session E: HARDNESS ASSURANCE - Experimental Procedure to Predict the Competition Between the Degradation Induced by Irradiation and Thermal Annealing of Oxide Trapped Charge in MOSFETs/
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| No. | 권호·제본정보 보기 | 소장처 | 소장사항 | 청구기호 | 구독 | 최근입수호 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 중앙도서관/3층 연속간행물(보존)/ | 621.305 I22l | 구독중단 | Vol.47 No.6 Pt.1-4 | ||
| 2 | 중앙도서관/3층 연속간행물실/ | 621.305 I22l | 구독중단 |
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