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Semiconductor Devices, Materials, and Processing - Characterization of Gd2O3 Films Deposited on Si(100) by Electron-Beam Evaporation/

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자료유형학술지논문
논문명Semiconductor Devices, Materials, and Processing - Characterization of Gd2O3 Films Deposited on Si(100) by Electron-Beam Evaporation/
저자명Landheer, D
학술지명Journal of the Electrochemical Society
발행년도2001
권호사항Vol.148 No.2
발행처Electrochemical Society
페이지G29p.
언어eng

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No. 권호·제본정보 보기 소장처 소장사항 청구기호 구독 최근입수호
1 중앙도서관/3층 연속간행물(보존)/ 621.3805 J86
2 중앙도서관/3층 연속간행물실/ 621.3805 J86 구독중단 Vol.158 No.12

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