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Simulations of defect assisted tunneling and its effect on I-V characteristics in resonant tunneling diodes

상세정보

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자료유형	학술지논문
논문명	Simulations of defect assisted tunneling and its effect on I-V characteristics in resonant tunneling diodes
저자명	Lee, S.;Weichold, M.;Parker, D.;Spencer, G.
학술지명	Compel
ISSN	0332-1649
발행년도	1993
권호사항	Vol.12 no.4
발행처	James Science Publishers
페이지	525-530
언어	eng