충남대학교 외국학술지지원센터

글로벌메뉴

Hybrid data mining approach for pattern extraction from wafer bin map to improve yield in semiconductor manufacturing

상세정보

상세정보
자료유형	학술지논문
논문명	Hybrid data mining approach for pattern extraction from wafer bin map to improve yield in semiconductor manufacturing
저자명	Hsu, S. C.; Chien, C. F.
학술지명	International journal of production economics
ISSN	0925-5273
발행년도	2007
권호사항	Vol.107 no.1
발행처	Elsevier Science B.V., Amsterdam.
페이지	88-103
언어	eng