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Quantitative measurements of Ge surface segregation during SiGe alloy growth

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자료유형학술지논문
논문명Quantitative measurements of Ge surface segregation during SiGe alloy growth
저자명Jernigan, G. G.
학술지명SURFACE SCIENCE -AMSTERDAM-
발행년도1980
권호사항vol: 380 no: 2 ( 199
발행처North-Holland Pub. Co
페이지417
언어eng

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No. 권호·제본정보 보기 소장처 소장사항 청구기호 구독 최근입수호
1 중앙도서관/3층 연속간행물(보존)/ 541.34505 S961
2 중앙도서관/3층 연속간행물실/ 541.34505 S961 구독중 vol.349 no.3

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