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Analysis of trace metals in thin silicon nitride films by total-reflection X-ray fluorescence/

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자료유형학술지논문
논문명Analysis of trace metals in thin silicon nitride films by total-reflection X-ray fluorescence/
저자명Vereecke, G
학술지명Spectrochimica acta . Part B Atomic spec
발행년도2001
권호사항Vol.56 No.11
발행처Pergamon Press
페이지2321-2330p.
언어eng

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No. 권호·제본정보 보기 소장처 소장사항 청구기호 구독 최근입수호
1 중앙도서관/3층 연속간행물(보존)/ 535.8405 S841B 구독중 Vol.55 No.12
2 중앙도서관/3층 연속간행물실/ 535.8405 S841B 구독중 Vol.63 No.12

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