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X-ray Inspection of Flip Chip Attach Using Digital Tomosynthesis

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자료유형	학술지논문
논문명	X-ray Inspection of Flip Chip Attach Using Digital Tomosynthesis
저자명	Rooks, S.
학술지명	CIRCUIT WORLD
ISSN	0305-6120
발행년도	1995
권호사항	Vol.21 no.3
발행처	WELA PUBLICATIONS LTD
페이지	51

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