충남대학교외국학술지지원센터

글로벌메뉴

  • HOME
  • sitemap

주메뉴


저장/메일/인쇄

  • |Home >
  • 저장/메일/인쇄

검색간략리스트

저널기사
Interface Evolution in a W/Si Multilayer after Rapid Thermal Annealing Studied by X-ray Reflectivity and Diffuse Scattering / Jergel, M / Munksgaard International Booksellers and Publishers / JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY / 642 / 1980
항목 :
이메일 : 제목 :

하단메뉴