충남대학교외국학술지지원센터

글로벌메뉴

  • HOME
  • sitemap

주메뉴

저장/메일/인쇄

  • |Home >
  • 저장/메일/인쇄

검색간략리스트

저널기사
Correlation of contact resistance with microstructure for Au/Ni/Al/Ti/AlGaN/GaN ohmic contacts using transmission electron microscopy/ / Bright, A N / American Institute of Physics / Journal of applied physics / 3143-3150p. / 2001
항목 :
이메일 : 제목 :

하단메뉴