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Misfit dislocations in GaAsN/GaAs interface/ / Toivonen, J. Tuomi, T.; Chen, W.; Lowney, D. Knuuttila, L.; McNally, P. J.; Hakkarainen, T.; Sopanen, M.; Lipsanen, H.; Riikonen, J.; / Chapman and Hall / Journal of materials science Materials i / p.267-270 / 2003
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