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491.
서명
Rainbow scattering of CH4 and C2H6 molecular beams from a LiF(001) surface: Dependence on incident kinetic energy and molecular anisotropy/ 미리보기
저자
Kondo, Takahiro
발행처
Published for the Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
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492.
서명
Characterization of silicon-rich nitride and oxynitride films for polysilicon gate patterning. I. Physical characterization/ 미리보기
저자
Joseph, E A
발행처
Published for the Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
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원문제공마감년
493.
서명
Low temperature deposition of titanium-oxide films with high refractive indices by oxygen-radical beam assisted evaporation combined with ion beams/ 미리보기
저자
Yamada, Yasumi
발행처
Published for the Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
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원문제공마감년
494.
서명
Angular dependence of the surface excitation probability for medium energy electrons backscattered from Al and Si surfaces/ 미리보기
저자
Werner, Wolfgang S M
발행처
Published for the Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
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원문제공마감년
495.
서명
Modeling the plasma chemistry of C2F6 and CHF3 etching of silicon dioxide, with comparisons to etch rate and diagnostic data/ 미리보기
저자
Ho, Pauline
발행처
Published for the Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
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원문제공마감년
496.
서명
Growth of giant magnetoresistance multilayers: Effects of processing conditions during radio-frequency diode deposition/ 미리보기
저자
Zou, W
발행처
Published for the Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
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원문제공마감년
497.
서명
Nonclassical impedance control of the high rate midfrequency reactive magnetron sputter process using harmonic analysis/ 미리보기
저자
Malkomes, N
발행처
Published for the Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
498.
서명
Influence of elastic-electron scattering on measurements of silicon dioxide film thicknesses by x-ray photoelectron spectroscopy/ 미리보기
저자
Powell, C J
발행처
Published for the Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
499.
서명
Behavior of ultrathin Al2O3 films in very high electric fields: Scanning tunneling microscope-induced void formation and dielectric breakdown/ 미리보기
저자
Niu, C
발행처
Published for the Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
500.
서명
X-ray photoelectron spectroscopy, x-ray absorption spectroscopy, and x-ray diffraction characterization of CuO-TiO2-CeO2 catalyst system/ 미리보기
저자
Francisco, M S P
발행처
Published for the Society by the American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
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