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[전방일치/ null: Integrated circuits -- Testing -- Congresses.]
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Electron Devices Group
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IEEE Reliability Society
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Institute of Electrical and Electronics Engineers Electron Devices Group
(1)
International Reliability Physics Symposium
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출판사
Electron Devices and Reliability Societies of the Institute of Electrical and Electronics Engineers
(1)
발행년도
1970
(1)
언어
영어
(1)
소장처
중앙도서관
(1)
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서명
저자
발행처
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10
15
20
30
50
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1.
서명
Reliability physics
저자
International Reliability Physics Symposium
발행처
Electron Devices and Reliability Societies of the Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
1970-1993
자료유형
연속간행물
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1
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