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1.
서명
Bayesian reliability when system and subsystem failure data are obtained in the same time period 미리보기
저자
Kim, K.O.
발행처
Executive Sciences Institute
원문제공시작년
2014
자료유형
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원문제공마감년
2.
서명
Burn-in considering yield loss and reliability gain for integrated circuits 미리보기
저자
Kim, K.O.
발행처
Executive Sciences Institute
원문제공시작년
2012
자료유형
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원문제공마감년
3.
서명
Positioning internal jugular venous catheters using the right third intercostal space in children/ 미리보기
저자
Kim, K. O
발행처
Munksgaard [etc.]
원문제공시작년
2003
자료유형
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원문제공마감년
4.
서명
STRUCTURAL MECHANICS AND MATERIALS - Convergence Acceleration of Iterative Modal Reduction Methods/ 미리보기
저자
Kim, K-O
발행처
American Institute of Aeronautics and Astronautics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
1 

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