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23861.
서명
Transmission electron microscopy analysis of a multiple quantum wire structure fabricated by dislocation slip 미리보기
저자
Ressier, L
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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23862.
서명
Transmission electron microscopy analysis of crystallographic transition from fcc to fct on PtMn spin valves/ 미리보기
저자
Maesaka, Akihiro
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
23863.
서명
Transmission electron microscopy and cathodoluminescence of tensile-strained Ga~xIn~1~-~xP/InP heterostructures. II. On the origin of luminescence heterogeneities in tensile stress relaxed Ga~xIn~1~-~xP/InP heterostructures 미리보기
저자
Cleton, F
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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23864.
서명
Transmission electron microscopy and cathodoluminescence of tensile-strained Ga~xIn~1~-~xP/InP heterostructures. I. Spatial variations of the tensile stress relaxation 미리보기
저자
Cleton, F
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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23865.
서명
Transmission electron microscopy and reflected high-energy electron-diffraction investigation of plastic relaxation in doped and undoped ZnSe/GaAs(001) 미리보기
저자
Rosenauer, A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
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23866.
서명
Transmission electron microscopy estimation of Bi-YIG nanoparticle hybridized with plastic material/ 미리보기
저자
Kim, T.-Y
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
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23867.
서명
Transmission electron microscopy investigation of the high temperature BiScO~3-PbTiO~3piezoelectric ceramic system/ 미리보기
저자
Randall, C. A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
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23868.
서명
Transmission electron microscopy investigation of tin sub-oxide nucleation upon SnO~2 deposition on silicon 미리보기
저자
Alfonso, C
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
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23869.
서명
Transmission electron microscopy investigations of damage induced by high energy helium implantation in 4H-SiC/ 미리보기
저자
Beaufort, M. F
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
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23870.
서명
Transmission electron microscopy observation of deformation microstructure under spherical indentation in silicon/ 미리보기
저자
Bradby, J E
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2000
자료유형
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23871.
서명
Transmission electron microscopy observation of lateral order/disorder structures in (Al)GaInP 미리보기
저자
Burkard, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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23872.
서명
Transmission electron microscopy observations of ferroelectric domains in the tetragonal Pb(Ni1/3Nb2/3)O3-PbZrO3-PbTiO3 ceramics modified by bismuth and zinc/ 미리보기
저자
Zhu, Xinhua
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
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23873.
서명
Transmission electron microscopy of <100> dark line defects in CdZnSe quantum well structures 미리보기
저자
U'Ren, G. D
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
23874.
서명
Transmission electron microscopy of as-quenched inert gas atomized particles: Effect of alloying additions in Nd~2Fe~1~4B 미리보기
저자
Wang, J.-Y
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
23875.
서명
Transmission electron microscopy of Terfenol-D crystals 미리보기
저자
Holden, A. P
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
23876.
서명
Transmission electron microscopy on {113} rodlike defects and {111} dislocation loops in silicon-implanted silicon 미리보기
저자
Pan, G. Z
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
23877.
서명
Transmission electron microscopy studies of crystal-to-amorphous transition in ion implanted silicon 미리보기
저자
Ishimaru, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
23878.
서명
Transmission electron microscopy study of a defected zone in GaN on a SiC substrate grown by hydride vapor phase epitaxy/ 미리보기
저자
Bendersky, L. A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
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원문제공마감년
23879.
서명
Transmission electron microscopy study of damaged layer on GaAs surface induced by low-energy ion irradiation/ 미리보기
저자
Kato, J
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
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원문제공마감년
23880.
서명
Transmission electron microscopy study of interface and internal defect structures of homoepitaxial diamond 미리보기
저자
Tarutani, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
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