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Institute of Electrical and Electronics Engineers
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(89)
저자
Institute of Electrical and Electronics Engineers
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출판사
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(3580)
Institute of Electrical and Electronics Engineers]
(556)
Available from IEEE Service Center
(1)
IEEE Power Engineering Society
(1)
발행년도
2000
(4049)
1963
(12)
1986
(6)
1982
(4)
1990
(4)
1991
(4)
1992
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1973
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1985
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3581.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - Guest Editorial/
저자
Masuda, H
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3582.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - A Study on Rm --> R1 Maps: Application to a 0.16mm Via Etch Process Endpoint/
저자
Rietman, E A
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
원문복사 신청
원문제공마감년
3583.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Capture Rate Enhance Method of 0.1-mm Level Defects by Pattern-Matching Inspectors/
저자
Sakurai, K
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
원문복사 신청
원문제공마감년
3584.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Intelligent Quality Controllers for On-Line Parameter Design/
저자
Chinnam, R B
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3585.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Real-Time Control of Reactive Ion Etching Using Neural Networks/
저자
Stokes, D
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
원문복사 신청
원문제공마감년
3586.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Reducing Airborne Molecular Contamination by Efficient Purging of FOUPs for 300-mm Wafers -- The Influence of Materials Properties/
저자
Frickinger, J
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
원문복사 신청
원문제공마감년
3587.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Scalability Study of Laser-Induced Vertical Make-Link Structure/
저자
Lee, J-H
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3588.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - REGULAR ISSUE PAPERS - Thermal Uniformity of 12-in Silicon Wafer During Rapid Thermal Processing by Inverse Heat Transfer Method/
저자
Lin, S
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3589.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - SPECIAL SECTION PAPERS - Analysis of the Impact of Process Variations on Clock Skew/
저자
Zanella, S
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3590.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - SPECIAL SECTION PAPERS - A Novel Filtering Method to Extract Three Critical Yield Loss Components (Gross, Repeated, and Random) FIMER/
저자
Imai, K
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3591.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - SPECIAL SECTION PAPERS - Calibration of a Two-Dimensional Numerical Model for the Optimization of LOCOS-Type Isolations by Response Surface Methodology/
저자
Senez, V
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3592.
서명
SPECIAL SECTION ON STATISTICAL METROLOGY - SPECIAL SECTION PAPERS - Effect of Parameter Variations at Chip and Wafer Level on Clock Skews/
저자
Sauter, S
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3593.
서명
Special Section on the 1999 Formal Methods Conference (FM '99) - Guest Editors' Introduction -- Special Issues for FM '99: The First World Congress - A Formal Security Model for Microprocessor Hardware/
저자
Lotz, V
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers]
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3594.
서명
Special Section on the 1999 Formal Methods Conference (FM '99) - Guest Editors' Introduction -- Special Issues for FM '99: The First World Congress - A Weakest Precondition Semantics for Refinement of Object-Oriented Programs/
저자
Cavalcanti, A
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers]
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3595.
서명
Special Section on the 1999 Formal Methods Conference (FM '99) - Guest Editors' Introduction -- Special Issues for FM '99: The First World Congress - Formal Development and Verification of a Distributed Railway Control System/
저자
Haxthausen, A E
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers]
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3596.
서명
Special Section on the 1999 Formal Methods Conference (FM '99) - Guest Editors' Introduction -- Special Issues for FM '99: The First World Congress - Incremental Design of a Power Transformer Station Controller Using a Controller Synthesis Methodology/
저자
Marchand, H
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers]
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3597.
서명
Special Section on the 1999 Formal Methods Conference (FM '99) - Guest Editors' Introduction -- Special Issues for FM '99: The First World Congress - Is Proof More Cost-Effective Than Testing?/
저자
King, S
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers]
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3598.
서명
Special Section on the 1999 Formal Methods Conference (FM '99) - Guest Editors' Introduction -- Special Issues for FM '99: The First World Congress - On Formal Methods in the Development of Computing Systems/
저자
Wing, J M
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers]
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3599.
서명
SPECIAL SECTION PAPERS - Hierarchical System Test by an IEEE 1149.5 MTM-Bus Slave-Module Interface Core/
저자
Hong, J-H
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
3600.
서명
SPECIAL SECTION PAPERS ON SOFTWARE ENGINEERING - Experiences with a Software Maintenance Project Course/
저자
Andrews, J H
발행처
Institute of Electrical and Electronics Engineers
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
171
172
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