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202.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session I: DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - Impact of 20-MeV Alpaha Ray Irradiation on the V-Band Performance of A1GaAs Pseudomorphic HEMTs/ 미리보기
저자
Ohyama, H
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
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203.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session I: DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - Neutron Irradiation Effects in InP/InGaAs Single Heterojunction Bipolar Transistors/ 미리보기
저자
Shatalov, A
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
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원문제공마감년
204.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session I: DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - The Effects of Proton Irradiation on the Lateral and Vertical Scaling of UHV/CVD SiGe HBT BiCMOS Technology/ 미리보기
저자
Cressler, J D
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
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205.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session I: DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - Thermal-Stress Effects on Enhanced Low Dose Rate Sensitivity in Linear Bipolar ICs/ 미리보기
저자
Shaneyfelt, M R
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
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206.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session I: DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - Total Dose Radiation Response and High Temperature Imprint Characteristics of Chalcogenide Based RAM Resistor Elements/ 미리보기
저자
Bernacki, S
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
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원문제공마감년
207.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - A Digital CMOS Design Technique for SEU Hardening/ 미리보기
저자
Baze, M P
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
208.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - A Model for Single-Event Transients in Comparators/ 미리보기
저자
Johnston, A H
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
209.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Analysis of SEB and SEGR in Super-Junction MOSFETs/ 미리보기
저자
Huang, S
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
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원문제공마감년
210.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Analysis of Single-Event Effects in Combinational Logic -- Simulation of the AM2901 Bitslice Processor/ 미리보기
저자
Massengill, L W
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
211.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Analysis of Single-Event Transients in Analog Circuits/ 미리보기
저자
Adell, P
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
212.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Calculation of Heavy Ion Induced Leakage Current in n-MOSFETs/ 미리보기
저자
Loquet, J-G
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
213.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Charge-Collection Characteristics of Low-Power, Ultrahigh Speed, Metamorphic AlSb/InAs High Electron Mobility Transistors (HEMTs)/ 미리보기
저자
McMorrow, D
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
214.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Clock Buffer Circuit Soft Errors in Antifuse-Based Field Programmable Gate Arrays/ 미리보기
저자
Wang, J-J
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
215.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Cosmic Ray Neutron Multiple-Upset Measurements in a 0.6 mm CMOS Process/ 미리보기
저자
Hazucha, P
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
216.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Heavy Ion Irradiation of Thin Gate Oxides/ 미리보기
저자
Ceschia, M
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
217.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Impact of CMOS Technology Scaling on the Atmospheric Neutron Soft Error Rate/ 미리보기
저자
Hazucha, P
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
218.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Incidence of Multi-Particle Events on Soft Error Rates Caused by n-Si Nuclear Reactions/ 미리보기
저자
Wrobel, F
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
219.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Mechanism for Single-Event Burnout of Bipolar Transistors/ 미리보기
저자
Kuboyama, S
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
220.
서명
SELECTED PAPERS FROM THE 2000 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE (NSREC'00) - Reno, Nevada, July 24-28, 2000 - Session J: SINGLE EVENT EFFECTS, MECHANISMS AND MODELING - Simulation of SEE-Induced Charge Collection in UHV/CVD SiGe HBTs/ 미리보기
저자
Niu, G
발행처
Professional Technical Group on Nuclear Science
원문제공시작년
2000
자료유형
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