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501.
서명
Characterization of tellurium layers for back contact formation on close to technology treated CdTe surfaces/ 미리보기
저자
Kraft, D
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
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원문제공마감년
502.
서명
Characterization of textured polycrystalline diamond by electron spin resonance spectroscopy 미리보기
저자
Graeff, C. F. O
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
503.
서명
Characterization of the diamond growth process using optical emission spectroscopy 미리보기
저자
Cui, J
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
504.
서명
Characterization of the dominant midgap levels in Si-doped GaN by optical-isothermal capacitance transient spectroscopy 미리보기
저자
Hacke, P
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
505.
서명
Characterization of the effective electrostriction coefficients in ferroelectric thin films/ 미리보기
저자
Kholkin, A L
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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506.
서명
Characterization of the effect of growth conditions on a-SiC:H films 미리보기
저자
Rava, P
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
507.
서명
Characterization of the electrical properties and thickness of thin epitaxial semiconductor layers by THz reflection spectroscopy/ 미리보기
저자
Hashimshony, D
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
508.
서명
Characterization of the electrical properties of semimetallic Bi films by electrical field effect 미리보기
저자
Butenko, A. V
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
509.
서명
Characterization of the erosion plume after ablation of copper and tantalum targets by excimer laser irradiation/ 미리보기
저자
Novodvorsky, O. A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
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510.
서명
Characterization of the hole capacitance of hydrogenated amorphous silicon metal-insulator-semiconductor structures/ 미리보기
저자
Park, Hyuk-Ryeol
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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511.
서명
Characterization of the I^-~2 anion ground state using conventional and femtosecond photoelectron spectroscopy 미리보기
저자
Zanni, M. T
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
512.
서명
Characterization of the keyhole formed during pulsed Nd-YAG laser interaction with a Ti-6Al-4V metallic target/ 미리보기
저자
Perret, O
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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513.
서명
Characterization of the metal-insulator interface of field-effect chemical sensors/ 미리보기
저자
Abom, A. E
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
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514.
서명
Characterization of the native Cr2O3 oxide surface of CrO2/ 미리보기
저자
Cheng, Ruihua
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
515.
서명
Characterization of the natural barriers of intergranular tunnel junctions: Cr2O3 surface layers on CrO2 nanoparticles/ 미리보기
저자
Dai, Jianbiao
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2000
자료유형
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원문제공마감년
516.
서명
Characterization of the noise in secondary ion mass spectrometry depth profiles 미리보기
저자
Chu, D. P
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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517.
서명
Characterization of the temperature dependent phase transition of evaporated Ti films on diamond: Phase identification using maximum entropy dataanalysis 미리보기
저자
Miller, S
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
518.
서명
Characterization of thick lead zirconate titanate films fabricated usinga new sol gel based process 미리보기
저자
Barrow, D. A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
519.
서명
Characterization of thin amorphous silicon films with multiple internal reflectance spectroscopy 미리보기
저자
Fameli, G
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
520.
서명
Characterization of thin film electron emitters by scanning anode field emission microscopy/ 미리보기
저자
Nilsson, L
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
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