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801.
서명
Electrical and reliability characteristics of ZrO2 deposited directly on Si for gate dielectric application/ 미리보기
저자
Qi, Wen-Jie
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2000
자료유형
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802.
서명
Electrical and structural analysis of high-dose Si implantation in GaN 미리보기
저자
Zolper, J. C
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
803.
서명
Electrical and structural characteristics of yttrium oxide films deposited by rf-magnetron sputtering on n-Si/ 미리보기
저자
Evangelou, E. K
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
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원문제공마감년
804.
서명
Electrical and structural characterization of metal-oxide-semiconductor capacitors with silicon rich oxide/ 미리보기
저자
Crupi, I
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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805.
서명
Electrical and structural properties of PtSi films in deep submicron lines 미리보기
저자
Xu, D.-X
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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806.
서명
Electrical and structural properties of solid phase crystallized polycrystalline silicon and their correlation to single-electron effects/ 미리보기
저자
Tan, Y T
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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807.
서명
Electrical and structural properties of zirconium germanosilicide formedby a bilayer solid state reaction of Zr with strained Si~1~-~xGe~x alloys 미리보기
저자
Wang, Z
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
808.
서명
Electrical and thermal properties of hot pressed (Nd0.5Gd0.5)Se1.50-x, where x=0.01, 0.02/ 미리보기
저자
Cook, B A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
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809.
서명
Electrical behavior of implanted carbon impurities in fluorine co-implanted GaAs 미리보기
저자
Peroni, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
810.
서명
Electrical behavior of YBa~2Cu~3O~7~-~x grain boundary junctions under low magnetic field 미리보기
저자
Nicoletti, S
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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811.
서명
Electrical breakdown induced by silicon nitride roughness in thin oxide-nitride-oxide films 미리보기
저자
Reisinger, H
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
812.
서명
Electrical characteristics and deep-level admittance spectroscopies of low-temperature grown GaAs p-i-n structures 미리보기
저자
Chen, J. F
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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813.
서명
Electrical characteristics of a TaOxNy/ZrSixOy stack gate dielectric for metal-oxide-semiconductor device applications/ 미리보기
저자
Jung, Hyungsuk
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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814.
서명
Electrical characteristics of diamond films synthesized from methane/hydrogen and acetone/hydrogen mixtures 미리보기
저자
Hung, C.-C
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
815.
서명
Electrical characteristics of heteroprocessed Pb(Zr~0~.~5~2Ti~0~.~4~8)O~3 films 미리보기
저자
Hyung Jin Jung
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
816.
서명
Electrical characteristics of metal/AlN/n-type 6H-SiC(0001) heterostructures 미리보기
저자
Aboelfotoh, M. O
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
817.
서명
Electrical characteristics of metal/semiconductor nanocontacts using light emission in a scanning tunneling microscope/ 미리보기
저자
Maurel, C
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
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원문제공마감년
818.
서명
Electrical characteristics of nearly relaxed InAs/GaP heterojunctions 미리보기
저자
Chen, E. H
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
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원문제공마감년
819.
서명
Electrical characteristics of two Coulomb blockade devices driven by a periodically oscillating potential/ 미리보기
저자
Altebaeumer, Thomas
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
820.
서명
Electrical characterization and metallurgical analysis of Pd-containing multilayer contacts on GaN/ 미리보기
저자
Chor, E F
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
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원문제공마감년
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