충남대학교외국학술지지원센터

글로벌메뉴

  • HOME
  • sitemap

주메뉴


CNU Search

검색 타입
상세검색
검색어[가나다ABC : E]
2,610건 중 2,610건 출력
53/131 페이지 엑셀파일 출력

검색간략리스트

열거형 테이블형
1041.
서명
Electromigration-induced transgranular failure mechanisms in single-crystal aluminum interconnects 미리보기
저자
Joo, Y.-C
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1042.
서명
Electromigration in eutectic SnPb solder lines/ 미리보기
저자
Huynh, Q T
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1043.
서명
Electromigration in isolated aluminum vias probed by resistance changes and 1/f noise 미리보기
저자
Alers, G. B
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1044.
서명
Electromigration in multilevel interconnects with polymeric low-k interlevel dielectrics/ 미리보기
저자
Justison, P
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1045.
서명
Electromigration in Sn-Pb solder strips as a function of alloy composition/ 미리보기
저자
Liu, C Y
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1046.
서명
Electromigration in YBa2Cu3O7-d using a metal clad near-field scanning optical microscope probe/ 미리보기
저자
Huerth, S H
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1047.
서명
Electromigration of aluminum cathodes in polymer-based electroluminescent devices 미리보기
저자
Cumpston, B. H
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1048.
서명
Electromigration of copper in Al(0.25 at.% Cu) conductor lines/ 미리보기
저자
Kao, H-K
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1049.
서명
Electromigration of eutectic SnPb and SnAg3.8Cu0.7 flip chip solder bumps and under-bump metallization/ 미리보기
저자
Lee, T Y
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1050.
서명
Electromigration of eutectic SnPb solder interconnects for flip chip technology/ 미리보기
저자
Lee, T Y
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1051.
서명
Electromigration transport mechanisms in Al thin-film conductors 미리보기
저자
Oates, A. S
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1052.
서명
Electromigration voiding in nanoindented, single crystal Al lines/ 미리보기
저자
Dwyer, V M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1053.
서명
Electromodulation reflectance of low temperature grown GaAs 미리보기
저자
Hsu, T. M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1054.
서명
Electron acoustic imaging of BaTiO~3 single crystals 미리보기
저자
Zhang, B. Y
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1055.
서명
Electron affinity of hydrogen, deuterium, and tritium: A nonadiabatic variational calculation using explicitly correlated Gaussian basis functions 미리보기
저자
Kinghorn, D. B
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1056.
서명
Electron and gamma irradiation effects in InP assessed by photoluminescence 미리보기
저자
Souza, P. L
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1057.
서명
Electron and hole components of tunneling currents in metal-oxide-semiconductor diodes/ 미리보기
저자
Faigon, Adri�n N
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1058.
서명
Electron and hole escape times in single quantum wells 미리보기
저자
Lefebvre, K. R
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1059.
서명
Electron and hole excitonic spin population inversions in strained semimagnetic semiconductor quantum wells 미리보기
저자
Jonker, B. T
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
1060.
서명
Electron and hole g-factors in CdTe/CdMgTe quantum wells 미리보기
저자
Zhao, Q. X
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년
맨앞 이전 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 다음 맨뒤

하단메뉴