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American Institute of Physics
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(2610)
저자
Shaing, K. C
(6)
Zhang, L
(5)
Chen, Q
(3)
Chen, W
(3)
Duan, N
(3)
Gotoh, H
(3)
Kim, H
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Knight, L. B
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Lai, C.-H
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Lee, S
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출판사
American Institute of Physics
(2610)
발행년도
1980
(1614)
2001
(458)
2003
(304)
2000
(234)
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서명
저자
발행처
원문제공시작년
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5
10
15
20
30
50
100
1041.
서명
Electromigration-induced transgranular failure mechanisms in single-crystal aluminum interconnects
저자
Joo, Y.-C
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1042.
서명
Electromigration in eutectic SnPb solder lines/
저자
Huynh, Q T
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1043.
서명
Electromigration in isolated aluminum vias probed by resistance changes and 1/f noise
저자
Alers, G. B
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1044.
서명
Electromigration in multilevel interconnects with polymeric low-k interlevel dielectrics/
저자
Justison, P
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1045.
서명
Electromigration in Sn-Pb solder strips as a function of alloy composition/
저자
Liu, C Y
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1046.
서명
Electromigration in YBa2Cu3O7-d using a metal clad near-field scanning optical microscope probe/
저자
Huerth, S H
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2000
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1047.
서명
Electromigration of aluminum cathodes in polymer-based electroluminescent devices
저자
Cumpston, B. H
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1048.
서명
Electromigration of copper in Al(0.25 at.% Cu) conductor lines/
저자
Kao, H-K
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1049.
서명
Electromigration of eutectic SnPb and SnAg3.8Cu0.7 flip chip solder bumps and under-bump metallization/
저자
Lee, T Y
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1050.
서명
Electromigration of eutectic SnPb solder interconnects for flip chip technology/
저자
Lee, T Y
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1051.
서명
Electromigration transport mechanisms in Al thin-film conductors
저자
Oates, A. S
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1052.
서명
Electromigration voiding in nanoindented, single crystal Al lines/
저자
Dwyer, V M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1053.
서명
Electromodulation reflectance of low temperature grown GaAs
저자
Hsu, T. M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1054.
서명
Electron acoustic imaging of BaTiO~3 single crystals
저자
Zhang, B. Y
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1055.
서명
Electron affinity of hydrogen, deuterium, and tritium: A nonadiabatic variational calculation using explicitly correlated Gaussian basis functions
저자
Kinghorn, D. B
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1056.
서명
Electron and gamma irradiation effects in InP assessed by photoluminescence
저자
Souza, P. L
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1057.
서명
Electron and hole components of tunneling currents in metal-oxide-semiconductor diodes/
저자
Faigon, Adri�n N
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1058.
서명
Electron and hole escape times in single quantum wells
저자
Lefebvre, K. R
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1059.
서명
Electron and hole excitonic spin population inversions in strained semimagnetic semiconductor quantum wells
저자
Jonker, B. T
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1060.
서명
Electron and hole g-factors in CdTe/CdMgTe quantum wells
저자
Zhao, Q. X
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
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