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검색어[가나다ABC : I]

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1/1 페이지

제한항목: Jawarani, D; American Institute of Physics

검색간략리스트

1.

서명: In situ transmission electron microscopy study of plastic deformation and stress-induced voiding in Al-Cu interconnects
저자: Jawarani, D
발행처: American Institute of Physics
원문제공시작년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

2.

서명: In situ transmission electron microscopy study of plastic deformation inpassivated Al Cu thin films
저자: Jawarani, D
발행처: American Institute of Physics
원문제공시작년: 1980
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

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