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[가나다ABC : M]
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American Institute of Physics
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(2224)
저자
Kopcewicz, M
(5)
Bhattacharyya, S
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Honda, S
(3)
Huang, M. Q
(3)
Jensen, J. H
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Krishnamurthy, M
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Li, S
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출판사
American Institute of Physics
(2224)
발행년도
1980
(1379)
2001
(374)
2003
(317)
2000
(154)
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서명
저자
발행처
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5
10
15
20
30
50
100
1001.
서명
Measurement and analysis of leaded glass polycapillary optic performance for hard x rays/
저자
Suparmi
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1002.
서명
Measurement and analysis of nonhydrostatic lattice strain component in niobium to 145 GPa under various fluid pressure-transmitting media/
저자
Singh, Anil K
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1003.
서명
Measurement and analysis of the scattered light in the critical ionic solution of ethylammonium nitrate in n-octanol
저자
Bonetti, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1004.
서명
Measurement and interpretation of current transmission in a crossed-field diode below cutoff
저자
Vanderberg, B. H
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1005.
서명
Measurement and manipulation of Mn clusters on clean and fullerene terminated Si(111)-7x7
저자
Upward, M. D
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1006.
서명
Measurement of absolute differential cross sections for the excitation of the �
저자
Asmis, K. R
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1007.
서명
Measurement of absorption line wing structure by wavelength modulation spectroscopy
저자
Bullock, A. M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1008.
서명
Measurement of and hypothesis for particle influx and density peaking ina tokamak plasma
저자
Chu, T. K
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1009.
서명
Measurement of built-in electrical potential in III-V solar cells by scanning Kelvin probe microscopy/
저자
Jiang, C.-S
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1010.
서명
Measurement of clottability of fibrin polymers using magnetic orientation
저자
Iwasaka, M
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1011.
서명
Measurement of complex optical constants of a highly doped Si wafer using terahertz ellipsometry/
저자
Nagashima, Takeshi
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1012.
서명
Measurement of depth-dependent atomic concentration profiles in CdTe/Hg~1 ~- ~xCd~xTe structures
저자
Mainzer, N
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1013.
서명
Measurement of doping concentration in boron-doped diamond film from capacitance spectroscopy
저자
Liu, K
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1014.
서명
Measurement of elastic force on a scanned probe near a solid surface
저자
Drummond Roby, M. A
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1015.
서명
Measurement of electron affinity in boron-doped diamond from capacitancespectroscopy
저자
Liu, K
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1016.
서명
Measurement of electro-optic effects in single crystal films of N-(4-nitrophenyl)-L-prolinol
저자
Xu, J
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1017.
서명
Measurement of evoked electroencephalography induced by transcranial magnetic stimulation/
저자
Iramina, K
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2003
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1018.
서명
Measurement of femtosecond resonant nonlinear refraction in Nd:YVO4 by degenerate pump-probe spectroscopy/
저자
Luo, L
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
2001
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1019.
서명
Measurement of fly height by scattered total internal reflection
저자
Lo, J. L
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
1020.
서명
Measurement of index of refraction of In~xAl~1~-~xAs epitaxial layer using in situ laser reflectometry
저자
Baek, J.-H
발행처
American Institute of Physics
원문제공시작년
1980
자료유형
저널기사
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원문제공마감년
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