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제한항목: 2014; Nihon Hinshitsu Kanri Gakkai

검색간략리스트

1.

서명: A Practice of T^2-Q Control Charts in Semiconductor Manufacturing Process -A paradigm shift from monitoring the amount of variation to monitoring the pattern of variation-
저자: Higashide, M.; Nishina, K.; Kawamura, H.
발행처: Nihon Hinshitsu Kanri Gakkai
원문제공시작년: 2014
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

2.

서명: A Problem of the Data Analysis in the Plant Cultivation and a Future Action
저자: Ishibashi, S.
발행처: Nihon Hinshitsu Kanri Gakkai
원문제공시작년: 2014
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

3.

서명: Physical-Statistical Hybrid Model for MIRROR PLANT
저자: Nakaya, M.; Li, X.
발행처: Nihon Hinshitsu Kanri Gakkai
원문제공시작년: 2014
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

4.

서명: Precision of the Estimation of the Response Mean and the Response Variance in Compound Noise Experiments
저자: Matsuura, S.
발행처: Nihon Hinshitsu Kanri Gakkai
원문제공시작년: 2014
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

5.

서명: Process Control for Semiconductor Manufacturing
저자: Kawamura, H.
발행처: Nihon Hinshitsu Kanri Gakkai
원문제공시작년: 2014
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

6.

서명: The Process Capability Study
저자: Sugiyama, T.
발행처: Nihon Hinshitsu Kanri Gakkai
원문제공시작년: 2014
자료유형: 저널기사 원문복사 신청
원문제공마감년

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